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By Dr. Ludwig Reimer (auth.)

ISBN-10: 3662014521

ISBN-13: 9783662014523

ISBN-10: 366201453X

ISBN-13: 9783662014530

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Auf Tafel II ist eine Serie mit verschiedenen Defokussierungen bei relativ starkem Astigmatismus (unkompensiert) gezeigt. Die angegebenen Abstände Xl des 1. Fresnelstreifens sind in Abb. 31 in Abhängigkeit von der Defokussierung aufgetragen. Man sieht hierbei vor allem, daß bei starken Defokussie rungen der Astigmatismus immer schlechter zu erkennen ist. 2) zwischen dem Abstand Xl des Fresnelsaumes vom Lochrand und der Defokussierung l (Xl ~ VT). 31 bei größerer Defokussierung. Der Astigmatismus läßt sich also am besten bei kleinsten Defokussierungen 38 § 3.

Verfahren zur GrobeinsteIlung eines Stigmators Dabei kann man bei magnetischen Mikroskopen die Stromdifferenz relativ aus der Zahl der Feinrasten des Bedienungsknopfes für die Regelung des Linsenstromes ermitteln. Die Zahl der Rasten gegen den Winkel {} aufgetragen, ergibt den in Abb. 35 gekennzeichneten Verlauf, bei dem die Meßpunkte durch eine Sinuskurve verbunden sind. 3) Der Stigmator ist zu stark eingestellt, wenn R max senkrecht zu R min (wie in Abb. 35), und zu schwach, wenn diese beiden Richtungen parallel liegen.

3) rufen leicht örtliche Aufladungen unter Elektronenbeschuß hervor, die zu einem zusätzlichen axialen Astigmatismus führen können. Die Bildbeobachtung erfolgt auf einem Leuchtschirm, der noch durch eine Lupe mit bis zu 10 fach er Vergrößerung betrachtet werden kann. Das Aufnahmematerial (Platten oder Film) liegt in der Regel 1- 2 cm unterhalb des Leuchtschirmes und deren Belichtung erfolgt durch Hochklappen des Leuchtschirmes. Da auf dem Schirm scharf gest ellt wird, könnte man annehmen, daß dann auf der Platte das Bild nicht scharf ist.

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Elektronenmikroskopische Untersuchungs- und Präparationsmethoden by Dr. Ludwig Reimer (auth.)


by Charles
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